數(shù)字式方塊電阻測(cè)試儀，電阻率測(cè)試儀，四探針薄膜電阻測(cè)試儀M-3
產(chǎn)品概述
M-3型數(shù)字式方塊電阻測(cè)試儀是一款基于四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)量設(shè)備，適用于半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜及涂層的電阻性能測(cè)試。該儀器采用模塊化設(shè)計(jì)，主機(jī)配備高精度數(shù)字顯示屏，支持手動(dòng)/自動(dòng)量程切換，并集成零位與滿度自校功能�？膳涮撞煌馁|(zhì)探針探頭，滿足硬質(zhì)材料（如硅片、金屬）與柔性材料（如ITO膜、納米涂層）的測(cè)試需求，同時(shí)通過四端子夾具擴(kuò)展電阻器體電阻等測(cè)量場(chǎng)景。1619
核心功能與特點(diǎn)
儀器采用輕觸按鍵操作，測(cè)試結(jié)果直接通過數(shù)字表頭顯示，分辨率最高達(dá)0.001Ω。支持電阻（0.010-50.00kΩ）、電阻率（0.010-20.00kΩ-cm）及方塊電阻（0.050-100.0kΩ/□）多參數(shù)測(cè)量。其可充電鋰電池供電設(shè)計(jì)便于手持移動(dòng)測(cè)試，適配不同尺寸樣品，手持模式無材料尺寸限制，加配測(cè)試臺(tái)后可支持Φ15-130mm圓片或180mm×180mm方片測(cè)試。探針組件可選碳化鎢硬質(zhì)探針或鍍金銅合金球形探針，兼顧耐磨性與接觸穩(wěn)定性。42327
應(yīng)用場(chǎng)景與適配性
該設(shè)備廣泛適用于半導(dǎo)體材料生產(chǎn)、科研機(jī)構(gòu)及高校實(shí)驗(yàn)室，可對(duì)硅片、鋰電池極片、導(dǎo)電泡棉、金屬鍍層等材料進(jìn)行導(dǎo)電性能分析。針對(duì)特殊應(yīng)用場(chǎng)景，如電池極片涂層測(cè)試，可選用專用箔上涂層探頭；而納米薄膜材料測(cè)試則適配高靈敏度球形探針。儀器的小型化設(shè)計(jì)（10×3.6×21cm）與一體化結(jié)構(gòu)使其適合實(shí)驗(yàn)室固定安裝或現(xiàn)場(chǎng)移動(dòng)檢測(cè)需求。62426
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
采用數(shù)字化信號(hào)處理技術(shù)，有效降低測(cè)試誤差，重復(fù)性表現(xiàn)良好。測(cè)試電流范圍覆蓋1μA-10mA，多檔位設(shè)計(jì)適應(yīng)不同阻值區(qū)間。主機(jī)內(nèi)置數(shù)據(jù)保持功能，便于記錄關(guān)鍵參數(shù)。探頭采用寶石導(dǎo)向軸套結(jié)構(gòu)，顯著降低機(jī)械游移對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)，可在0-40℃溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定工作。51521
數(shù)字式方塊電阻測(cè)試儀，電阻率測(cè)試儀，四探針薄膜電阻測(cè)試儀M-3
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