M-3便攜式手持式薄膜方阻測試儀四探針電阻率測試儀ITO膜方阻儀
產(chǎn)品概述
M-3便攜式手持式薄膜方阻測試儀是一款基于四探針測量原理設計的多功能綜合測量儀器，適用于半導體材料、導電薄膜及涂層的電阻率和方塊電阻測試。該儀器采用輕觸按鍵輸入設計，具備零位和滿度自校功能，支持手動/自動量程轉(zhuǎn)換，測試結果通過高亮數(shù)碼管清晰顯示，適用于實驗室、生產(chǎn)線及野外等多種場景。16
核心功能與特點
儀器采用可充電鋰電池供電，續(xù)航時間長達48小時，滿足移動測試需求。其探頭可根據(jù)材料特性靈活選配，包括高耐磨碳化鎢探針（適用于硅片、金屬等硬質(zhì)材料）和球形鍍金銅合金探針（適用于ITO膜、納米涂層等柔性材料）。通過更換四端子夾具，還可擴展用于電阻器體電阻或金屬導體電阻測量。測試范圍覆蓋0.010Ω~50.00kΩ電阻及0.050Ω~100.0kΩ/□方塊電阻，分辨率達0.001Ω。38
應用場景
該設備廣泛應用于半導體材料廠、科研機構及高校，可測試硅片、導電塑料、金屬鍍膜、鋰電池極片涂層等多種材料的導電性能。針對不同基底材料（如玻璃、陶瓷、PE膜）上的導電薄膜（如ITO膜、噴涂膜），儀器能提供穩(wěn)定精確的測量數(shù)據(jù)。其緊湊設計（10cm×3.6cm×21cm）和0.3kg的輕量化機身，顯著提升了操作便捷性。710
技術優(yōu)勢
儀器內(nèi)置厚度與形狀修正功能，通過五檔量程自動切換減少人為誤差。測試數(shù)據(jù)可通過LED數(shù)字表頭實時顯示，強光或昏暗環(huán)境下均能清晰讀數(shù)。選配測試臺后可升級為臺式測試系統(tǒng)，支持180mm×180mm樣品直接測試，滿足不同尺寸材料的檢測需求。1323
M-3便攜式手持式薄膜方阻測試儀四探針電阻率測試儀ITO膜方阻儀
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