Agilent4263B與HP4263B LCR測試電橋產(chǎn)品介紹
Agilent4263B與HP4263B是專為電子元件精密測量設計的LCR測試儀器,適用于研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制等場景。兩款設備采用高精度電路設計,可在20 Hz至1 MHz頻率范圍內(nèi)實現(xiàn)穩(wěn)定、可重復的阻抗參數(shù)測量,滿足電感(L)、電容(C)、電阻(R)等基礎元件的高效檢測需求。
Agilent4263B在繼承HP4263B經(jīng)典測試架構(gòu)的基礎上,優(yōu)化了操作界面與數(shù)據(jù)處理能力。設備配備4.3英寸彩色顯示屏,支持直觀的菜單導航與實時圖形化數(shù)據(jù)顯示,有效提升操作效率。內(nèi)置多檔測試信號電平(5 mV至1 V),可適配不同規(guī)格元件的測試需求,尤其適用于小信號元件的精準測量。通過標配的HANDLER接口和RS-232通信接口,設備可輕松接入自動化測試系統(tǒng),支持批量檢測場景下的數(shù)據(jù)同步與流程控制。
HP4263B作為經(jīng)典機型,憑借穩(wěn)定的測試性能與長期可靠性,在電子制造領域積累了廣泛的應用案例。其直流偏置功能可支持±40 V電壓疊加測試,為電解電容、磁性元件等特殊器件的特性分析提供有效解決方案。兩款設備均采用模塊化電路設計,具備良好的抗干擾能力,在復雜電磁環(huán)境中仍能保持測量一致性。
Agilent4263B與HP4263B適用于半導體器件、被動元件、通信模塊等產(chǎn)品的研發(fā)驗證與產(chǎn)線檢測,為實驗室、質(zhì)檢部門及電子生產(chǎn)企業(yè)提供靈活的測試方案。設備支持自定義測試條件存儲功能,用戶可根據(jù)不同測試需求快速調(diào)用預設參數(shù),顯著提升工作效率。我們提供專業(yè)的技術支持與設備維護服務,確保儀器在全生命周期內(nèi)保持優(yōu)良性能。