數(shù)字超聲波探傷儀leeb510
Leeb510數(shù)字超聲波探傷儀是一款高效、精準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、汽車、機(jī)械等多個(gè)領(lǐng)域。它能夠快速、便捷且無(wú)損傷地檢測(cè)工件內(nèi)部多種缺陷,如裂紋、焊縫、氣孔、砂眼、夾雜、折疊等,并進(jìn)行定位、評(píng)估及診斷。
該設(shè)備具備高精度的定量和定位能力,能夠滿足近距離和遠(yuǎn)距離探傷的要求。其近場(chǎng)盲區(qū)小,特別適合小管徑、薄壁管的探傷。Leeb510還配備了自動(dòng)校準(zhǔn)功能,一鍵式操作可自動(dòng)測(cè)試探頭的“零點(diǎn)”、“K值”、“前沿”及材料的“聲速”,極大地簡(jiǎn)化了操作流程。
此外,Leeb510能夠自動(dòng)顯示缺陷回波位置,包括深度、水平距離、波幅、當(dāng)量dB值和孔徑ф值等,并可自由切換三種標(biāo)尺(深度、水平、距離),方便用戶根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行選擇。它還具備自動(dòng)增益、回波包絡(luò)和峰值記憶功能,有效提高了探傷效率。
Leeb510擁有15個(gè)獨(dú)立探傷通道(可擴(kuò)展),用戶可以自由輸入并存儲(chǔ)多個(gè)行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn),現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)無(wú)需攜帶試塊。設(shè)備可自由存儲(chǔ)、回放50幅A掃波形及數(shù)據(jù),便于后續(xù)分析。其DAC、AVG曲線自動(dòng)生成且可分段制作,取樣點(diǎn)不受限制,并支持修正與補(bǔ)償。
該設(shè)備采用26萬(wàn)色真彩屏顯示,亮度可調(diào),適合在強(qiáng)光和弱光環(huán)境下使用。其鋁鎂合金外殼堅(jiān)固耐用,具備防水、防塵功能,抗干擾能力強(qiáng)。Leeb510還配備高性能安全環(huán)保鋰電池,可連續(xù)工作8小時(shí),并具備實(shí)時(shí)時(shí)鐘記錄功能,確保探傷日期和時(shí)間的跟蹤記錄。
Leeb510數(shù)字超聲波探傷儀憑借其強(qiáng)大的功能和出色的性能,為無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域提供了一種可靠、高效的解決方案,是檢測(cè)行業(yè)的理想選擇。
數(shù)字超聲波探傷儀leeb510




HY-6800全數(shù)字智能超聲波探傷儀
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