SZT-1型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是一款專為材料導(dǎo)電性能分析設(shè)計(jì)的精密測(cè)量設(shè)備，適用于半導(dǎo)體材料、金屬薄膜、陶瓷基板、導(dǎo)電涂層等多種材料的電阻率與方塊電阻檢測(cè)。該產(chǎn)品基于經(jīng)典四探針測(cè)量原理設(shè)計(jì)，通過(guò)優(yōu)化探針布局和信號(hào)采集模塊，顯著提升了測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性和重復(fù)性，為實(shí)驗(yàn)室研究、工業(yè)質(zhì)檢等場(chǎng)景提供可靠數(shù)據(jù)支持。
核心功能與技術(shù)特點(diǎn)
設(shè)備采用高靈敏度數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別材料電阻范圍并匹配最佳測(cè)試參數(shù)，量程覆蓋1mΩ·cm至100kΩ·cm，滿足從高導(dǎo)電金屬到中高阻半導(dǎo)體材料的寬域測(cè)量需求。探針系統(tǒng)選用耐磨碳化鎢材質(zhì)，配合恒壓接觸設(shè)計(jì)，可在保證測(cè)量精度的同時(shí)減少對(duì)樣品的表面損傷。內(nèi)置溫度補(bǔ)償算法可有效降低環(huán)境波動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性在±1%以內(nèi)。
應(yīng)用場(chǎng)景與適配性
SZT-1型測(cè)試儀支持片狀、塊狀、薄膜狀等多種形態(tài)樣品的直接測(cè)量，特別適用于光伏硅片、ITO玻璃、納米導(dǎo)電薄膜等新型材料的工藝優(yōu)化與品控管理。其模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)便于探針間距調(diào)節(jié)（支持0.5-5mm可選配置），配合可拆卸樣品臺(tái)，可快速適配不同尺寸的待測(cè)物。設(shè)備配備4.3英寸彩色觸控屏，支持?jǐn)?shù)據(jù)曲線實(shí)時(shí)顯示與歷史記錄查詢，測(cè)量結(jié)果可通過(guò)USB接口或無(wú)線傳輸至計(jì)算機(jī)進(jìn)行深度分析。
操作體驗(yàn)與可靠性
整機(jī)采用人機(jī)交互界面設(shè)計(jì)，內(nèi)置智能引導(dǎo)式操作流程，大幅降低使用門檻。防護(hù)等級(jí)達(dá)IP42的金屬機(jī)身結(jié)構(gòu)，配合多級(jí)電路保護(hù)系統(tǒng)，保障設(shè)備在復(fù)雜工業(yè)環(huán)境下的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。通過(guò)創(chuàng)新性的接觸電阻抑制技術(shù)，有效消除探針氧化、壓力波動(dòng)等因素引起的測(cè)量偏差，為科研創(chuàng)新與生產(chǎn)質(zhì)控提供精準(zhǔn)高效的檢測(cè)方案。
